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您的位置:網(wǎng)站首頁 > 技術(shù)文章 雙層獨(dú)立控溫試驗(yàn)箱最大的核心賣點(diǎn),就是上下雙腔獨(dú)立控溫、互不干擾,可同時(shí)做兩組不同溫度、不同時(shí)長、不同工況的溫濕度試驗(yàn),大幅提升實(shí)驗(yàn)室測試效率、節(jié)省場地與用電成本但在實(shí)際使用中,很多用戶都會遇到同一個通病:下層腔體設(shè)定低溫運(yùn)行,上層腔體溫度...
在產(chǎn)品可靠性老化、溫濕度耐久測試、批量樣品篩查的實(shí)驗(yàn)室日常運(yùn)營中,設(shè)備能耗高、單機(jī)測試量少、多臺設(shè)備占地大、運(yùn)維成本高是絕大多數(shù)企業(yè)的通病。傳統(tǒng)單腔溫濕度試驗(yàn)箱單次測試容量有限,大批量老化只能依靠多臺設(shè)備同時(shí)開機(jī),造成電力能耗翻倍、設(shè)備投入...
一、引言在電子元器件、汽車零部件、新材料、五金電鍍、新能源電芯等產(chǎn)品可靠性研發(fā)與質(zhì)檢領(lǐng)域,高低溫環(huán)境模擬是驗(yàn)證產(chǎn)品耐溫適應(yīng)性、熱脹冷縮穩(wěn)定性、長期耐候性能的核心試驗(yàn)手段。傳統(tǒng)分體式加熱制冷試驗(yàn)設(shè)備布線繁瑣、占地龐大、操作繁瑣、程序兼容性差,...
隨著車載曲面屏、智能家居弧形觸控面板、弧形光學(xué)玻璃、異形顯示模組等產(chǎn)品大規(guī)模普及,傳統(tǒng)平面適配型快速溫變試驗(yàn)箱已無法滿足曲面試件的可靠性測試要求。弧形面板具備曲面曲率、厚度梯度、氣流遮擋、受熱面積不均等結(jié)構(gòu)特性,在快速升降溫工況下極易出現(xiàn)應(yīng)...
-60℃超低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱在完成低溫循環(huán)、冷熱交替測試后,極易出現(xiàn)箱體內(nèi)壁結(jié)露滴水、底部積水、門框密封條結(jié)冰融化漏水、測試樣品受潮返水等共性問題。區(qū)別于常規(guī)-40℃低溫設(shè)備,-60℃深冷工況腔體蓄冷量極大、內(nèi)外溫差極值更高,水汽凝露、密封...
三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱憑借三區(qū)獨(dú)立儲能、氣流切換式?jīng)_擊、無樣品振動、溫變速率穩(wěn)定等優(yōu)勢,成為半導(dǎo)體、車載電子、精密元器件冷熱疲勞測試的主流設(shè)備。不同于兩箱式設(shè)備依靠吊籃移動實(shí)現(xiàn)溫區(qū)切換,三槽機(jī)型依賴氣動風(fēng)門高頻開合、精準(zhǔn)密封來隔離高溫倉、低溫...
在半導(dǎo)體、車載電子、精密元器件、IC封裝可靠性測試領(lǐng)域,高壓加速老化試驗(yàn)是驗(yàn)證產(chǎn)品耐濕熱、抗腐蝕、抗老化性能的核心手段。目前行業(yè)主流設(shè)備分為兩種:不飽和型HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱與普通PCT飽和高壓蒸煮試驗(yàn)箱。很多研發(fā)、質(zhì)檢人員容易將兩款設(shè)...
在高低溫低氣壓試驗(yàn)箱(高海拔試驗(yàn)箱)日常檢測工作中,試驗(yàn)數(shù)據(jù)偏差、穩(wěn)壓不準(zhǔn)、壓力數(shù)值跳變、重復(fù)性差是實(shí)驗(yàn)室最常見、也最容易被忽視的問題。大多數(shù)用戶第一時(shí)間會懷疑設(shè)備漏氣、真空泵故障或程序異常,但大量售后數(shù)據(jù)證明:80%以上的低壓試驗(yàn)誤差,根...